【信息科学与工程学】计算机科学与自动化——第一百五十篇 数字逻辑电路08 数字逻辑电路技术演进02

ASIC 的 OCC/压缩/X-mask 规则，并继续覆盖 Memory BIST、CDC、形式验证、物理验证、ECO、诊断、可靠性、封装、混合信号、安全、功耗、时序收敛、设计复用、项目管理等关键规则，直至410​ 形成完整闭环。编号 395-410：ASIC 芯片数字逻辑规则（续）编号类型领域问题【含材料/架构】数学分析参数与边界关联395DFT/ASIC扫描压缩ASIC 的 OCC + 压缩 + X-mask 规则​逐步推理：​① ASIC 规模大（亿门），扫描链数千条，需压缩（EDT/XOR compactor）+ OCC（on-chip clock controller）做 at-speed。② 规则：OCC 在 shift 用 TCK/分频，capture 用 PLL；压缩器需 X-mask 屏蔽未知态（三态总线、未初始化 RAM）。③ 数学：压缩比 CR=NATEpin