【华为OD机试真题 新系统】16、FLASH坏块监测系统 | 机试真题+思路参考+代码解析（C++、Java、Py、C语言、JS）

文章目录一、题目题目描述输入输出样例1样例2二、代码与思路参考C++代码Java代码Python代码C语言代码JS代码订阅本专栏后即可解锁在线OJ刷题权限专栏介绍：最新的华为OD机试真题2026新系统，使用C++，Java，Python，C语言，JS五种语言进行解答，每个题目的思路分析都非常详细，持续更新，支持在线OJ刷题！！！订阅后评论获取权限，有代码问题随时解答，代码仅供学习参考题库学习： 华为OD机试新系统(C++ Java Py C JS)+OJ一、题目题目描述开发一个FLASH坏块监测系统，能够监测FLASH中坏块的数量。FLASH介质以一个大小为m*n的二维二进制矩阵表示，其中：0表示正常，1表示异常，最初，FLASH介质中的所有单元格都是正常(即，所有单元格都是0)，系统运行过程中，FLASH坏块不断产生：随着系统持续运行，某一个时刻 i，FLASH介质中的某个单元格(ri.ci)由正常变为异常。返回一个整数数组result，其中result[i] 是FLASH介质中第i个时刻(ri.ci)位置变为异常后，FLASH中坏块的数量。坏块的定义：坏块是由4个方向相连的异常单元格组