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在 ATE 无锁(Lock-Free)架构中,“写指令(Set Voltage/Set Pin)”与“读指令(Measure Current/Read ADC)”存在本质差异

在 ATE 无锁(Lock-Free)架构中,“写指令(Set Voltage/Set Pin)”与“读指令(Measure Current/Read ADC)”存在本质差异 在 ATE 无锁(Lock-Free)架构中,“写指令(Set Voltage/Set Pin)”与“读指令(Measure Current/Read ADC)”存在本质差异:写指令:是单向的(Fire-and-Forget),投递到无锁队列后生产者(Site 线程)无需等待返回值,可直接向下执行。读指令:具有数据依赖性,Site 线程需要拿到精确的物理测量值(如IDDQI_{DDQ}I
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